一、報(bào)告背景
在當(dāng)前智慧公安領(lǐng)域的快速發(fā)展下，對關(guān)鍵設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性日益重視，黑龍江某高科技企業(yè)為滿足其24小時不間斷、低溫環(huán)境下的運(yùn)行需求，購買了型號為【DT-S1010MB-JH110MC】的東田1U短款工控機(jī)，并提出了進(jìn)行嚴(yán)格的抗老化測試的需求。
本次測試旨在驗(yàn)證該工控機(jī)在連續(xù)高負(fù)荷工作及極端溫度變化條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性，以確保其在智慧公安系統(tǒng)中的核心作用得到充分發(fā)揮。
二、測試概況
本次抗老化測試包括開關(guān)機(jī)測試、常溫老化測試以及恒溫箱老化測試三個部分，通過模擬工控機(jī)在日常運(yùn)行中可能遇到的各種情況，全面評估其性能表現(xiàn)和穩(wěn)定性。
三、測試產(chǎn)品系統(tǒng)配置
散熱方式：CPU風(fēng)扇+機(jī)箱風(fēng)扇主動散熱。
性能：采用Intel H110芯片組，搭載酷睿6代i3/i5/i7處理器，配備32G DDR4內(nèi)存。
擴(kuò)展卡：Intel HD Graphics顯卡、Realtek AL C662聲卡、2個Intel千兆網(wǎng)口。
電源：東田250W電源。
四、抗老化測試內(nèi)容
（一）開關(guān)機(jī)測試
1.設(shè)置AT開機(jī)模式之后，進(jìn)行50次來電開機(jī)測試，沒有出現(xiàn)不開機(jī)的異常；正常關(guān)機(jī)后提示“您可以安全關(guān)機(jī)了”。
2.設(shè)置ATX開機(jī)模式之后，進(jìn)行50次觸發(fā)開機(jī)測試，沒有出現(xiàn)不開機(jī)的異常，ATX來電正常開機(jī)。
3.開機(jī)后進(jìn)行50次復(fù)位測試，沒有出現(xiàn)不開機(jī)的異常。
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燒機(jī)起止時間為1小時，CPU溫度40℃，硬盤溫度33℃，運(yùn)行Burnintest7.1，在“配置運(yùn)行參數(shù)”內(nèi)將CPU、內(nèi)存、2D圖形、3D圖形、內(nèi)存、音頻、網(wǎng)絡(luò)、視頻、均設(shè)置為100，使系統(tǒng)滿負(fù)荷工作，24小時的運(yùn)行過程中無任何報(bào)錯。
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測試設(shè)備：微電腦恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
環(huán)境溫度：-20℃~60℃
測試軟件：BURNINTEST 6.0
檢測工具：Gxp-108溫度計(jì)+探頭(監(jiān)視機(jī)箱表面溫度)；hw32_510/CoreTemp32(監(jiān)視CPU溫度)。
測試方法：將待測整機(jī)置于MSD-1001工業(yè)烤箱中，在烤箱內(nèi)部接好顯示器、鍵盤、鼠標(biāo)等測試設(shè)備后開機(jī)，運(yùn)行測試軟件“BURNINTEST 6.0”，在“配置運(yùn)行參數(shù)”內(nèi)將CPU、內(nèi)存、2D圖形、3D圖形、內(nèi)存、均設(shè)置為，使系統(tǒng)滿負(fù)荷工作。將烤箱內(nèi)部溫度由低到高依次設(shè)定為－20℃，60℃，并記錄下各溫度點(diǎn)時待測整機(jī)的運(yùn)行情況。
測試步驟（烤機(jī)時間共計(jì)74H）：
?、俑邷乜鞠錅囟扔沙叵陆档?20℃—5min
②持續(xù)-20℃存貯—2H
?、鄢掷m(xù)-20℃老化—6H
④高溫烤箱溫度由-20℃升高到60℃—5min
?、莩掷m(xù)60℃老化—66H
測試記錄如下：
五、結(jié)語
經(jīng)過一系列嚴(yán)格的測試，東田1U短款工控機(jī)表現(xiàn)出了極高的可靠性和穩(wěn)定性，完全滿足智慧公安系統(tǒng)24小時不間斷工作的需求，并能適應(yīng)惡劣的環(huán)境條件，有效提升客戶公安工作的效率和質(zhì)量。
東田產(chǎn)品在出廠前都會經(jīng)過嚴(yán)格的測試流程，確保其穩(wěn)定運(yùn)行，為客戶提供強(qiáng)有力的技術(shù)保障，如有需求，歡迎致電東田客服咨詢。
